試驗背景
高壓蒸煮試驗即為高溫，高濕，高氣壓測試，主要檢驗塑料封裝的半導體集成電路和空封器件等電子器件的綜合影響，是用高加速的試驗方式評價電子產品耐濕熱和密封的能力，應用于電子產品質量評估、失效分析、可靠性測試等。 高壓蒸煮試驗的溫度范圍為105~142.9℃，濕度范圍為75%~100%RH，壓力范圍為0.02~0.186Mpa。
中科檢測環境可靠性實驗中心擁有各種氣候環境模擬試驗設備，具備高壓蒸煮試驗能力，為各類國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠等產品提供專業的高壓蒸煮試驗服務。
應用范圍
國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁性材料、單層線路板、多層線路板、燈飾、照明制品等產品。
試驗標準
GB/T 4937.4-2012半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）
JESD22-A110D-2010高加速濕熱應力試驗
IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008 非氣密固態表面貼裝器件 潮濕/再流焊敏感度分級
400-133-6008
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